En el marco de la redefinición del Sistema Internacional de Unidades, el Centro Nacional de Metrología (CENAM) realiza este magno evento cada dos años, con el propósito de reunir a la comunidad metrológica nacional e internacional para compartir los avances de esta ciencia en cada uno de sus ámbitos de especialidad y abrir un espacio a la discusión de temas emergentes en la metrología, la tecnología y los avances en otras ciencias.
Para esta edición se desarrollarán como temas principales la Metrología Primaria, la Metrología para la Innovación Tecnológica y la Metrología para el Desarrollo Sustentable.
En los días previos al Simposio, se ofrecerán cursos relacionados con el quehacer metrológico; y durante el evento, expertos nacionales e internacionales de reconocido prestigio impartirán conferencias sobre el tema. Además, habrá una exposición de carteles y diversas actividades culturales y sociales. En la exposición industrial, fabricantes de instrumentos de medición mostrarán lo más avanzado en tecnología de medición.
Las inscripciones y recepción de trabajos están abiertas. Consulta fechas y detalles de participación aquí.