Del 11 al 13 de marzo de 2020, en las instalaciones del Instituto Nacional de Metrología de Colombia, se llevó a cabo la reunión final del proyecto de investigación “Calibration of weighing instruments – microbalances”. Este proyecto se inició desde el año 2017 con el apoyo del Sistema Interamericano de Metrología (SIM) y con el financiamiento del Banco Interamericano de Desarrollo (BID) dentro del marco del proyecto regional “Fortalecimiento de los Institutos Nacionales de Metrología en el Hemisferio, en apoyo de las tecnologías emergentes” con representantes de los laboratorios de masa de Institutos Nacionales de Metrología (INMs) de Perú (INACAL), México (CENAM), Costa Rica (LACOMET), Argentina (INTI), Uruguay (LATU), Chile (CESMEC) y Colombia (INM).

En esta reunión se presentaron los resultados del proyecto de investigación y se trabajó en el desarrollo de la nueva guía de calibración de instrumentos para pesar con resolución menor a 10 microgramos, comúnmente llamadas microbalanzas o ultra-microbalanzas, basada en el método alternativo. De esta manera, se establecerá la ruta de acción para la divulgación de la guía en los INMs en la región SIM como alternativa para calibrar estos instrumentos con incertidumbres menores. Dentro de las actividades del proyecto se realizó una comparación en calibración de pesas menores al miligramo, llamadas micropesas, con el propósito de adquirir experiencia en el manejo y uso de las mismas y que en un futuro puedan ser utilizadas como referencias para calibrar microbalanzas en intervalos más pequeños.

Los objetivos de este proyecto de investigación son:

  • Validar un método alternativo de calibración de instrumentos para pesar con el cual se pueden obtener incertidumbres más pequeñas en comparación con las que se obtienen con la Guía SIM “Calibration of non-automatic weighing instruments” SIM MWG7/cg-01/v.00.
  • Publicar una guía de calibración basada en el método alternativo, la cual podrá diseminarse a los laboratorios de calibración a través de los institutos nacionales de metrología del SIM.
  • Proveer a la comunidad metrológica una herramienta adicional para satisfacer las necesidades de medición de tecnologías emergentes tales como manufactura, nanotecnología y biotecnología.

Más Información:

Luis Manuel Peña Pérez

lpena@cenam.mx

Dirección de Metrología de Masa y Densidad