El Centro Nacional de Metrología, CENAM, hace una cordial invitación a participar  en el próximo Simposio de Metrología mediante el envío de artículos para su presentación en sesiones orales o carteles, el cual se llevará a cabo del 19 al 23 de septiembre de 2016 en la ciudad de Santiago de Querétaro. El Simposio de Metrología 2016 proporciona un foro para la discusión e intercambio de experiencias sobre los más recientes avances y aplicaciones de la metrología para el bienestar y la competitividad. 

El lema de este Simposio es “Metrología para el bienestar y la competitividad”, ya que desde su establecimiento, el CENAM ha apoyado a los diversos sectores de la sociedad en la satisfacción de sus necesidades metrológicas con el fin de contribuir al bienestar de la población e incrementar la competitividad del país. 

Esperamos contar con su valiosa presencia en este evento. 

Dr. Daniel Cárdenas García
Coordinador General del Simposio de Metrología 2016
http://www.cenam.mx/simposio/trabajos.aspx