Los invitamos a la Jornada técnica para el segmento automotriz "Cada pieza cuenta para garantizar la calidad" organizado por METTLER TOLEDO, donde el M. en C. Luis Omar Becerra Santiago, Director de Masa y Densidad del Centro Nacional de Metrología (CENAM), participará con la ponencia “Control de producto con base a mediciones”.
En el programa participarán adicionalmente, expertos del NSF Internacional y METTLER TOLEDO presentando temas relacionados a normativas para la Industria Automotriz, soluciones y servicios de pesaje, medición y análisis térmico para la Industria Automotriz.
El evento se realizará el 21 de febrero de 2019, de 8h30 a 15h00, en el Holiday Inn Querétaro Zona Krystal.
Asista y benefíciese del asesoramiento experto en los siguientes temas: Normativas ISO/TS 16949:2002 y la IATF 16949, Aplicaciones y Exigencias en la Industria Automotriz, Control de producto con base a mediciones, Aplicaciones de pesaje para la Automatización, Análisis Térmico en la Industria Automotriz, Mettler Toledo Service.
Cupo limitado. Evento gratuito, sólo es necesario su registro.
Más información en https://www.mt.com/mx/es/home/events/seminars/automotriz.html
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