Por Israel Pérez Valencia

Santiago de Querétaro, Querétaro. 25 de abril de 2017 (Agencia Informativa Conacyt).- El Centro Nacional de Metrología (Cenam) participa, junto con otras instituciones nacionales e internacionales, en el desarrollo de patrones y métodos de medida enfocados en los nanomateriales que se emplean en diferentes tipos de industrias. 

Ante la necesidad que existe de establecer una infraestructura de medición confiable y comparable en la nanoescala, el Cenam implementó el Programa de Metrología para las Nanotecnologías (Prometnano), con el objetivo de atender de manera sistemática las necesidades metrológicas del país, actuales y previsibles, en soporte a las nanociencias y para el aprovechamiento de las nanotecnologías.

En entrevista con la Agencia Informativa Conacyt, la coordinadora científica de la Dirección General de Metrología de Materiales del Cenam, Norma González Rojano, detalló respecto a los proyectos que realiza el Prometnano para el aprovechamiento de las nanociencias y las nanotecnologías en México.

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Agencia Informativa Conacyt (AIC): ¿Cuál es el antecedente para el surgimiento de este programa?

Para leer entrevista completa, consulte:

http://www.conacytprensa.mx/index.php/tecnologia/nanotecnologia/14760-cenam-patrones-metodo-medicio-nanomateriales