El Centro Nacional de Metrología (CENAM), llevó a cabo del 19 al 23 de septiembre su Simposio edición 2016, con el lema “Metrología para el bienestar y la competitividad”. Este evento proporcionó un foro para la discusión e intercambio de experiencias sobre los más recientes avances y aplicaciones de la metrología.
Se dieron cita asociaciones industriales, académicos, organismos normalizadores, representantes de centros de investigación públicos y privados, fabricantes, distribuidores de equipos y proveedores de servicios de medición.
Cabe destacar que los trabajos presentados en sesiones paralelas y en cartel fueron sometidos al arbitraje del Comité Técnico para su aceptación, con el propósito de hacer de ellos una fuente confiable de conocimiento.
Como resultado, se presentaron 175 trabajos ante 425 asistentes, destacando la participación del Dr. Joachim H. Ullrich del PTB de Alemania y Kent B. Rochford del NIST de EUA. El 60% de los trabajos estuvieron enfocados al tema de metrología primaria; el 30% a la competitividad a través de la innovación, transferencia de tecnología, aplicaciones industriales y educación; y el 10% al bienestar en salud, energías renovables, seguridad y medio ambiente, entre otros.
Los asistentes provenían de diversos países, tales como: Afganistán, Alemania, Estados Unidos, Argentina, Brasil, Canadá Chile, Colombia, Costa Rica, Cuba, Ecuador, Francia, Panamá, Perú, Uruguay y Venezuela.
El CENAM agradece a todos quienes hicieron posible la realización de este Simposio: asistentes, promotores, patrocinadores, miembros del Comité Técnico, autoridades e integrantes del Comité Organizador.
