Los sistemas de iluminación LED son una de las soluciones más utilizadas para mejorar el consumo energético debido a que en muchos casos, solo es necesario realizar algunas modificaciones a la estructura existente. En comparación con las fuentes de luz tradicionales, el LED tiene muchas ventajas, principalmente su tamaño compacto, el servicio prolongado de uso, ahorro de energía y espacio; además de un nuevo potencial de estilo. Con la eficiencia luminosa que aumenta gradualmente y salida.
Los luminarios LED ofrecen patrones de iluminación precisos para controlar la contaminación lumínica, la comodidad, la visibilidad y eficiencia de utilización de la luz.
La integración de dispositivos inteligentes en combinación con un hardware y tecnología LED permite que el sistema de iluminación se convierta en una red de comunicaciones capaz de controlar y analizar el comportamiento dentro de las plantas industriales para lograr mayor eficiencia; de esta manera, las fábricas podrán explotar sus recursos al máximo. El LED se ha utilizado ampliamente en iluminación vial, iluminación automotriz e iluminación interior. Por esa razón las empresas no pueden quedarse atrás en la incorporación de nuevas tecnologías, pues ello puede implicar su salida de la competencia.
En el ámbito internacional se está trabajando en el desarrollo de normas y patrones para fortalecer el desarrollo de sistemas de iluminación basados en la tecnología LED. El esfuerzo internacional se lleva de la mano con productores y desarrolladores de primer nivel, por ello, y para conocer el rumbo y los avances logrados al momento, la Dirección de Óptica y Radiometría de Centro Nacional de Metrología invita a todos los interesados a conocer más acerca de los sistemas de iluminación LED a través del seminario web que se realizará el próximo 18 de febrero de 2021 de 10:00 a 11:00.
El registro al evento se debe realizar en el siguiente enlace https://www.cenam.mx/led
Liga de acceso al seminario: https://www.youtube.com/watch?v=Il5H4dY74cU
Mayor Información:
Iris Mariela López Bautista.
Anayeli Pérez Carrillo.
Dirección General de Metrología Física