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Reconocimiento John James Dupuis - ANCE para el Dr. René D. Carranza del Centro Nacional de Metrología

Reconocimiento John James Dupuis-ANCE para el Dr. René D. Carranza del Centro Nacional de Metrología

Evento que tuvo lugar en el marco del Foro a la Excelencia 2017 organizado por la ANCE

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Estas esferas surgen como una posibilidad para ser utilizadas como patrones de masa de alta exactitud

La Dirección de Masa y Densidad participa en estudio de medición de la estabilidad de la masa de esferas de silicio

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Las unidades se definirán en términos de constantes físicas

Nuevas definiciones del kilogramo, el ampere, el kelvin y el mol

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Querétaro, Qro.

10° Simposio Internacional de Medición de Flujo de Fluidos

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Directorio


Foto de Dr. Víctor José Lizardi Nieto
Dr. Víctor José Lizardi Nieto
Director General del Centro Nacional de Metrología
Foto de Dr. Ignacio Hernández Gutiérrez
Dr. Ignacio Hernández Gutiérrez
Director General de Metrología Mecánica
Foto de Dr. Ismael Arturo Castelazo Sinencio
Dr. Ismael Arturo Castelazo Sinencio
Director General de Servicios Tecnológicos
Foto de Dr. José Salvador Echeverría Villagómez
Dr. José Salvador Echeverría Villagómez
Director General de Metrología Física
Foto de Dr. René David Carranza López Padilla
Dr. René David Carranza López Padilla
Director General de Metrología Eléctrica
Foto de Dr. Yoshito Mitani Nakanishi
Dr. Yoshito Mitani Nakanishi
Director General de Metrología de Materiales
Foto de Estructura orgánica del CENAM
Estructura orgánica del CENAM
Organigrama del CENAM
Foto de M. en C. César de Jesús Cajica Gómez
M. en C. César de Jesús Cajica Gómez
Director General de Administración y Finanzas

Prensa


Premio Estatal de Ciencia, Tecnología e Innovación Querétaro, 2017

Comunicado

El Dr. Héctor O. Nava Jaimes, quien fuera Director del Centro Nacional de Metrología en el periodo 1996-2016, fue galardonado con el “Premio Estatal de Ciencia, Tecnología e Innovación Querétaro 2017, en la modalidad única de Trayectoria a la Investigación.

Acciones y Programas


Desarrollo de patrones primarios de medición

El CENAM permanentemente desarrolla patrones de referencia primarios para comparación nacional y con ello su diseminación en el país, no obstante otras instancias internacionales también solicitan tal beneficio.

Materiales de Referencia

Los materiales de referencia certificados (MRC) representan uno de los mecanismos importantes de diseminación de las exactitudes de los sistemas de referencia que se han desarrollado en los campos de química, física, fisco-química y biología.

Capacitación en Metrología

La Subdirección de Educación Continua ofrece servicios de capacitación en ámbito Metrológico. Contamos con la experiencia del personal técnico, sistemas de medición desarrollados, ética profesional y un compromiso con nuestro cliente.

Información de Contacto


km 4.5 Carretera a Los Cués ,
Municipio El Marques, Querétaro. C.P. 76246

Teléfono: 4422110500 ext 3000
Atención a la ciudadanía: servtec@cenam.mx
Centro Nacional de Metrología

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